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CEM3000微觀形貌觀測分析掃描電鏡在自動程序的幫助下，無需過多人工調節(jié)，便可一鍵得到理想的拍攝圖片。CEM3000臺式掃描電鏡無需占據大量空間來容納整個電鏡系統，這使其甚至能夠出現在用戶日常工作的桌面上，在用戶手邊實時呈現所得結果。

SuperViewW表面形貌3D白光干涉儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優(yōu)點，測量單個精細器件的過程用時短，確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。

中圖儀器CEM3000形貌分析掃描電鏡是一款用于對樣品進行微觀尺度形貌觀測和分析的緊湊型設備。憑借空間分辨率出色和易用性強，用戶能夠非常快捷地進行各項操作。甚至在自動程序的幫助下，無需過多人工調節(jié)，便可一鍵得到理想的拍攝圖片。

中圖儀器SEM掃描電子顯微鏡品牌操作系統簡便，使用過程簡單快捷。憑借空間分辨率出色和易用性強，用戶能夠非常快捷地進行各項操作。甚至在自動程序的幫助下，無需過多人工調節(jié)，便可一鍵得到理想的拍攝圖片。

VT6000微納米形貌測量共聚焦顯微鏡以共聚焦技術為原理結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過系統軟件對器件表面3D圖像進行數據處理與分析，并獲取反映器件表面質量的2D、3D參數，從而實現器件表面形貌3D測量。

中圖儀器CEM3000微觀形貌觀測掃描電鏡操作系統簡便，使用過程簡單快捷。樣品一鍵裝入，自動導航和一鍵出圖能力（自動聚焦+自動消像散+自動亮度對比度）幫助用戶在短短幾十秒內就可獲取高清圖像，大大提升了使用效率。